光學(xué)值控制補償薄膜系統(tǒng)
光繞射干涉彩虹紋抑制應(yīng)用
產(chǎn)品方案說明
低位相差值光學(xué)級薄膜，各類應(yīng)用/不同厚度訂制方案。
塑料膜上不同折射率特性
產(chǎn)生繞射下的干涉彩虹紋(Moiré)
厚度與光學(xué)控制薄膜
產(chǎn)品應(yīng)用無限可能
低位相差光學(xué)薄膜
R0<10 nm；
低光彈系數(shù)，減少應(yīng)力彩虹紋(Moiré)；
同步延伸，MD/TD向特性/厚度控制。
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.MD/TD同步延伸，尺寸安定性一致；
2.低位相差/位相差均一性，避免偏振光源的干涉現(xiàn)象；
3.同步延伸，避免延伸紋Mura；
4.拉伸后提高膜厚均一性，降低厚度公差。
厚度/光學(xué)能力
| 項目 | 測試方法 | 單位 | 測試值 |
| 全光線穿透率 | ASTM 1003 | % | ＞90 |
| 霧度值（原膜） | ASTM 1003 | % | ＜1 |
| 位相差 | AXOSCAN | nm | R0 ＜10 |
| 厚度 | Thickness meter | μm | D 10~125 |
| μm | D +/-1 | ||
| 尺寸安定性 | 95 water 5min. | % | ＜1 |
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